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3300V 500A
簡単な紹介
IGBT モジュール ,高電圧IGBT、ダブルスイッチIGBTモジュール、CRRCによって製造。3300V 500A。
主要パラメータ
| 総額 | 3300 V | 
| 衛星の VCE (衛星) | (典型) 2.40 V | 
| 集積回路 | (最大) 500 A | 
| IC(RM) | (最大) 1000 A | 
典型的な用途
特徴
絶対値 最大 RA ティング
| (記号) | (パラメータ) | (試験条件) | (値) | (単位) | 
| 総額 | 集合器-放出器の電圧 | V GE = 0V,Tvj = 25°C | 3300 | V | 
| V GES | ゲート・エミッター・ボルト | 
 | ± 20 | V | 
| I C | コレクタ-エミッタ電流 | T ケース = 100 °C, Tvj = 150 °C | 500 | A | 
| I C(PK) | ピークコレクタ電流 | 1ms、Tケース = 140 °C | 1000 | A | 
| P max | 最大トランジスタ電力損失 | Tvj = 150°C, T ケース = 25 °C | 5.2 | kW | 
| I 2t | ダイオード | VR =0V, t P = 10ms, Tvj = 150 °C | 80 | kA2s | 
| Visol | 絶縁電圧 – モジュールごと | 基板に共通端子を接続) AC RMS,1 分, 50Hz | 6000 | V | 
| Q PD | 部分放電 – モジュールごと | IEC1287 について V1 = 3500V,V2 = 2600V,50Hz RMS,TC = 25 °C | 10 | pC | 
電気 特徴
| T 事例 = 25° C T 事例 = 25° C しない限り 明らかにした 違うなら | ||||||
| (シンボル ) | (パラメータ) | (試験条件) | (ほんの少し ) | (タイプ ) | (マックス ) | (ユニット ) | 
| 
 
 わかった CES | コレクターの切断電流 | V 遺伝子組み換え = 0V V CE = V CES | 
 | 
 | 1 | mA | 
| V 遺伝子組み換え = 0V V CE = V CES , T 事例 =125 °C | 
 | 
 | 30 | mA | ||
| V 遺伝子組み換え = 0V V CE = V CES , T 事例 =150 °C | 
 | 
 | 50 | mA | ||
| わかった 総エネルギー | ゲート漏れ 現在 | V 遺伝子組み換え = ±20V V CE = 0V | 
 | 
 | 1 | 微分数 | 
| V 遺伝子組み換え (TH) | ゲート 限界電圧 | わかった C = 40 mA , V 遺伝子組み換え = V CE | 5.50 | 6.10 | 7.00 | V | 
| 
 
 V CE (衛星 )ポイント | コレクター・エミッター飽和度 圧力は | V 遺伝子組み換え =15V わかった C = 500A | 
 | 2.40 | 2.90 | V | 
| V 遺伝子組み換え =15V わかった C = 500A T vj = 125 °C | 
 | 2.95 | 3.40 | V | ||
| V 遺伝子組み換え =15V わかった C = 500A T vj = 150 °C | 
 | 3.10 | 3.60 | V | ||
| わかった F | ダイオード前流 | DC | 
 | 500 | 
 | A | 
| わかった FRM | ダイオード最大前向き 現在 | t P = 1ミリ秒 | 
 | 1000 | 
 | A | 
| 
 
 V F ポイント | 
 ダイオード前向き電圧 | わかった F = 500A | 
 | 2.10 | 2.60 | V | 
| わかった F = 500A T vj = 125 °C | 
 | 2.25 | 2.70 | V | ||
| わかった F = 500A T vj = 150 °C | 
 | 2.25 | 2.70 | V | ||
| C ies | 入力容量 | V CE = 25V V 遺伝子組み換え = 0V f = 1MHz | 
 | 90 | 
 | ロープ | 
| Q g | ゲートチャージ | ±15V | 
 | 9 | 
 | 微分 | 
| C res | 逆転転送能力 引用文 | V CE = 25V V 遺伝子組み換え = 0V f = 1MHz | 
 | 2 | 
 | ロープ | 
| L M | モジュール インダクタンス | 
 | 
 | 25 | 
 | nH | 
| R INT | 内部トランジスタ抵抗 | 
 | 
 | 310 | 
 | μΩ | 
| 
 
 わかった SC | ショートサーキット 流量 わかった SC | T vj = 150°C V CC = 2500V V 遺伝子組み換え ≤ 15V t p ≤ 10μs, V CE (マックス ) = V CES – L ポイント × ディ /dt ,IEC 製造された物 | 
 | 
 
 1800 | 
 | 
 
 A | 
| 消して | オフ遅延時間 | 
 
 I C =500A VCE =1800V Cge = 100nF L ~ 150nH V GE = ±15V RG(ON) = 3.0Ω RG(OFF)= 4.5Ω | 
 | 1720 | 
 | nS | 
| t f | 秋の時間 | 
 | 520 | 
 | nS | |
| E OFF | 切断時のエネルギー損失 | 
 | 780 | 
 | mJ | |
| オン (オン) | オンする遅延時間 | 
 | 650 | 
 | nS | |
| について | 昇る時間 | 
 | 260 | 
 | nS | |
| エオン | オンする時のエネルギー損失 | 
 | 730 | 
 | mJ | |
| Qrr | ダイオード逆回復電荷 | 
 I F = 500A VCE =1800V diF/dt =2100A/us | 
 | 390 | 
 | 微分 | 
| I rr | ダイオード逆回復電流 | 
 | 420 | 
 | A | |
| エレック | ダイオード逆回復エネルギー | 
 | 480 | 
 | mJ | 
| (記号) | (パラメータ) | (試験条件) | (最小) | (典型) | (最大) | (単位) | 
| 消して | オフ遅延時間 | 
 
 I C =500A VCE =1800V Cge = 100nF L ~ 150nH V GE = ±15V RG(ON) = 3.0Ω RG(OFF)= 4.5Ω | 
 | 1860 | 
 | nS | 
| t f | 秋の時間 | 
 | 550 | 
 | nS | |
| E OFF | 切断時のエネルギー損失 | 
 | 900 | 
 | mJ | |
| オン (オン) | オンする遅延時間 | 
 | 630 | 
 | nS | |
| について | 立ち上がり時間 昇る時間 | 
 | 280 | 
 | nS | |
| エオン | オンする時のエネルギー損失 | 
 | 880 | 
 | mJ | |
| Qrr | ダイオード逆回復電荷 | 
 I F = 500A VCE =1800V diF/dt =2100A/us | 
 | 620 | 
 | 微分 | 
| I rr | ダイオード逆回復電流 | 
 | 460 | 
 | A | |
| エレック | ダイオード逆回復エネルギー | 
 | 760 | 
 | mJ | 
| (記号) | (パラメータ) | (試験条件) | (最小) | (典型) | (最大) | (単位) | 
| 消して | オフ遅延時間 | 
 
 I C =500A VCE =1800V Cge = 100nF L ~ 150nH V GE = ±15V RG(ON) = 3.0Ω RG(OFF)= 4.5Ω | 
 | 1920 | 
 | nS | 
| t f | 秋の時間 | 
 | 560 | 
 | nS | |
| E OFF | 切断時のエネルギー損失 | 
 | 1020 | 
 | mJ | |
| オン (オン) | オンする遅延時間 | 
 | 620 | 
 | nS | |
| について | 昇る時間 | 
 | 280 | 
 | nS | |
| エオン | オンする時のエネルギー損失 | 
 | 930 | 
 | mJ | |
| Qrr | ダイオード逆回復電荷 | 
 I F = 500A VCE =1800V diF/dt =2100A/us | 
 | 720 | 
 | 微分 | 
| I rr | ダイオード逆回復電流 | 
 | 490 | 
 | A | |
| エレック | ダイオード逆回復エネルギー | 
 | 900 | 
 | mJ | 

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