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計装増幅器

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CM4226、高性能、双方向計装増幅器

ゲインをプログラマブルに設定可能。

広帯域の干渉および高調波を抑制できる。

AD620のベンチマーキング。AD620の最良の代替品。

Brand:
YT
Spu:
CM4226
Appurtenance:

製品パンフレット:ダウンロード

  • 紹介
  • 試験能力
紹介

概要
CM4226は、広帯域の周波数範囲にわたり業界最高レベルのCMRRを実現する、ゲインをプログラム可能な高性能バイポーラ型計装増幅器です。従来の計装増幅器では数100Hz付近でCMRRが低下しますが、CM4226は10kHzの帯域幅内でゲイン1において80dBを超える高いCMRRを維持します。この優れたCMRRにより、広帯域の干渉および高調波を抑制でき、フィルタ回路の設計を大幅に簡素化できます。

低オフセット電圧、低オフセットドリフト、低ゲインドリフト、高ゲイン精度、および高CMRRを備えたこのチップは、ブリッジ信号のコンディショニングなど、優れたDC性能が求められるアプリケーションに最適です。

プログラマブルゲインにより設計の柔軟性が得られ、外部抵抗1個でゲインを1~1000の範囲で設定可能です。CM4226はシングル電源またはデュアル電源で動作可能で、入力電圧は±10Vまでサポートします。

CM4226はSOP8およびMSOP8パッケージで提供されており、最適な動作温度範囲は−40°Cから85°Cです。85°Cから125°Cの間もわずかな性能低下で機能可能です。

特徴

  • 広い電源電圧範囲:±2.3V~±18V
  • 入力オフセット電圧:40µV(最大)
  • 入力オフセット電圧の温度ドリフト:0.3µV/°C(最大)
  • 入力バイアス電流:0.5nA(最大)
  • 低入力電圧ノイズ:7nV/√Hz(最大)
  • 等価入力ノイズ:0.2µVpp(典型値、0.1Hz–10Hz)
  • CMRR:80dB(DC)/80dB(10kHz)(G = 1)
  • 小信号-3dB帯域幅:1000kHz(G = 1)
  • スルーレート:2.4V/µs
  • 単一の外部抵抗器によるプログラマブルゲイン(G = 1–1000)
  • SOP8(4.9mm × 3.9mm)およびMSOP8(3mm × 3mm)パッケージ

応用

  • 機器
  • センサ信号調整回路
  • データ取得システム
  • 電磁流量計
  • 医療機器

CM4226-架构框图.png

CM4226-管脚.png

ストップ8

CM4226-外形 MSOP8.png

CM4226-外形SOP8尺寸.png

MSPO8

CM4226-外形 MSOP8.png

CM4226-外形 MSOP8尺寸.png

商品リスト
計装増幅器
P/N タイプ パッケージ MPQ(個) 比較対象
CM4221-SOPTA 増幅器 ロール 3000 AD8221
CM4221-MSOTA 増幅器 ロール 4000 AD8221
CM4226-SOPTA 増幅器 ロール 3000 AD620
CM4226-MSOTA 増幅器 ロール 4000 AD620

当社について

我々はIGBTの 応用 iGBTおよびICの 製品 。IGBTおよびIC製品の応用を基盤として、当社は高級パワーアセンブリのカスタマイズという製品分野を拡大しました。同時に、当社の事業は自動化制御製品分野にも進出し、ADC/DAC、LDO、計測用増幅器、電磁リレー、フォトMOS、MOSFETなどを取り扱うようになりました。これにより、当社は中国のトップメーカーと専門分野において協業し、顧客に信頼性が高くコスト効率に優れた製品を提供することが可能になりました。
革新と卓越性を理念として設立され、半導体代替ソリューションおよび技術の最先端に立っています。
私たちのビジョンは、中国製を通じて顧客に代替ソリューションを提供し、彼らのアプリケーションソリューションのコストパフォーマンスを向上させ、サプライチェーンの安全性を確保することです。

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当社ユーザー

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試験能力

1.信頼性試験室

信頼性は製品品質の基盤であり、重要な品質特性です。当社の試験室は国際的な産業標準に従って設立されており、包括的な試験能力を備えています。電子製品に対して、信頼性向上試験、信頼性認定試験、寿命試験、スクリーニング試験など、さまざまな評価試験を実施できます。また、顧客の要望に応じたカスタマイズされた信頼性試験も実施可能です。

  • 高温ゲートバイアステスト(HTGB)
  • 高温逆バイアステスト(HTRB)
  • 低温保存寿命試験(LTSL)
  • プレッシャーコッカー試験(PCT)
  • 高温高湿加速試験(H3TRB)
  • 間欠動作寿命試験(IOL)
  • 高温保存寿命試験(HTSL)
  • 無バイアス高加速ストレス試験(uHAST)

RELIABILITY TEST LAB.png

2.製品評価・応用試験室

(1) デバイス試験および評価

  • 各種MOSFET、IGBT、ダイオード、ワイドバンドギャップ電力半導体の試験および評価。デバイス仕様は最大1700V/2000Aまで対応
  • 試験項目には、I-V特性、C-V特性、Qg、Rg、スイッチング特性、逆回復特性、アバランシェ耐量、短絡耐量が含まれます
  • 電源システム試験

当社のアプリケーションエンジニアは、電源設計および電力デバイス応用分野において長年にわたり豊富な経験を有しており、お客様に包括的な技術サポートを提供しています。試験項目には以下が含まれます:

  • 効率試験
  • 温度上昇試験
  • 伝導型EMI試験
  • サージ試験

APPLICATION SYSTEM TEST LAB.png

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