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IGBTモジュール 1200V

IGBTモジュール 1200V

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GD200CEX120C8SN,IGBT モジュール,STARPOWER

1200V 200A、パッケージ:C8

Brand:
ストアパワー
Spu:
GD200CEX120C8SN
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  • 概要
  • 等価回路の回路図
ご案内

概要

IGBT モジュール ,製造元 ストアパワー .1200V 200A. 本当

主な特長

  • 低VCE(sat)トレンチIGBT技術
  • 10μs短回路能力
  • 陽性温度係数を持つ VCE (sat)
  • 最大接合温度 175
  • 低感受性ケース
  • 速くて柔らかい逆回復 対称性のないFWD
  • DBC技術を用いた隔離銅基板

典型的な用途

  • モータードライブ用インバータ
  • ACおよびDCサーボドライブアンプ
  • 無停電電源装置

絶対値 最大の レーティング T F =25o C しない限り 違うなら 記載

IGBT

シンボル

説明

バリュー

単位

V CES

集合器-放出器の電圧

1200

V

V 総エネルギー

ゲート・エミッター・ボルト

±20

V

IC

コレクタ電流 @ T C=25o C @ T C=100o C

363

200

A

ICRM

繰り返す 頂点 収集家 現在の tp 限定的 著者: T バイト

400

A

PD

最大電源 消耗 @ T vj =175o C

1293

W

ダイオード

シンボル

説明

バリュー

単位

V RRM

繰り返しのピーク リバース・ボルト 年齢

1200

V

IF

ダイオード連続フォワード電流 エント

200

A

IFRM

繰り返す 頂点 フォワード 現在の tp 限定的 著者: T バイト

400

A

モジュール

シンボル

説明

バリュー

単位

T vjmax

交差点最大温度

175

o C

T バイト

交差点の動作温度

-40から+150

o C

T STG

保管温度範囲

-40から+125

o C

V ISO

絶縁電圧 RMS,f=50Hz,t =1分

2500

V

IGBT 特徴 T C=25o C しない限り 違うなら 記載

シンボル

仕様

試験条件

分。

タイプする

マックス。

単位

V 衛星

収集機から発信機へ 飽和電圧

IC=200A、V 遺伝子組み換え =15V T vj =25o C

1.75

2.20

V

IC=200A、V 遺伝子組み換え =15V T vj =125o C

2.00

IC=200A、V 遺伝子組み換え =15V T vj =150o C

2.05

V 遺伝子組み換え (th)

ゲート発信者の限界値 電圧

IC=8.0mA ,V CE =V 遺伝子組み換え , T vj =25o C

5.6

6.2

6.8

V

ICES

収集家 切断 オフ 現在の

V CE =V CES ,V 遺伝子組み換え =0V T vj =25o C

1.0

mA

I総エネルギー

ゲート発射器の漏れ 現在の

V 遺伝子組み換え =V 総エネルギー ,V CE =0V T vj =25o C

400

nA

バー ゲント

内部ゲート抵抗 アンス

1.0

ω

Cies

入力容量

V CE 電気回路が1Mhzで V 遺伝子組み換え =0V

18.6

ロープ

Cres

逆転移転 容量

0.52

ロープ

QG

ゲートチャージ

V 遺伝子組み換え =-15 ...+15V

1.40

微分

t d (オン )

オンする遅延時間

V CC =600V,I C=200A, バー G=2.0Ω、Ls=50nH、 V 遺伝子組み換え =±15V, T vj =25o C

140

nS

t バー

昇る時間

31

nS

t 消して

切断する 遅延時間

239

nS

t f

秋の時間

188

nS

Eオン

オン スイッチング 損失

11.2

mJ

Eオフ

切断する 損失

13.4

mJ

t d (オン )

オンする遅延時間

V CC =600V,I C=200A, バー G=2.0Ω、Ls=50nH、 V 遺伝子組み換え =±15V, T vj =125o C

146

nS

t バー

昇る時間

36

nS

t 消して

切断する 遅延時間

284

nS

t f

秋の時間

284

nS

Eオン

オン スイッチング 損失

19.4

mJ

Eオフ

切断する 損失

18.9

mJ

t d (オン )

オンする遅延時間

V CC =600V,I C=200A, バー G=2.0Ω、Ls=50nH、 V 遺伝子組み換え =±15V, T vj =150o C

148

nS

t バー

昇る時間

37

nS

t 消して

切断する 遅延時間

294

nS

t f

秋の時間

303

nS

Eオン

オン スイッチング 損失

21.7

mJ

Eオフ

切断する 損失

19.8

mJ

ISC

SC データ

t P≤10μs V 遺伝子組み換え =15V

T vj =150o C,V CC =800V V 単数 ≤1200V

800

A

ダイオード 特徴 T C=25o C しない限り 違うなら 記載

シンボル

仕様

試験条件

分。

タイプする

マックス。

ユニット

V F

ダイオード 前向き 電圧

IF =200A、V 遺伝子組み換え =0V,T vj =25o C

1.85

2.30

V

IF =200A、V 遺伝子組み換え =0V,T vj =125o C

1.90

IF =200A、V 遺伝子組み換え =0V,T vj =150o C

1.95

Qバー

回収された電荷

V バー =600V,I F =200A,

-di/dt=5710A/μs、Ls=50nH、 V 遺伝子組み換え =15V T vj =25o C

20.0

微分

Iロープ

ピーク逆

回復電流

220

A

Eレス

逆転回復 エネルギー容量

7.5

mJ

Qバー

回収された電荷

V バー =600V,I F =200A,

-di/dt=4740A/μs、Ls=50nH、 V 遺伝子組み換え =15V T vj =125o C

34.3

微分

Iロープ

ピーク逆

回復電流

209

A

Eレス

逆転回復 エネルギー容量

12.9

mJ

Qバー

回収された電荷

V バー =600V,I F =200A,

-di/dt=4400A/μs、Ls=50nH、 V 遺伝子組み換え =15V T vj =150o C

38.7

微分

Iロープ

ピーク逆

回復電流

204

A

Eレス

逆転回復 エネルギー容量

14.6

mJ

モジュール 特徴 T C=25o C しない限り 違うなら 記載

シンボル

仕様

分。

タイプする

マックス。

単位

バー thJC

接合 事例 (perIGBT ) ケースへの接点 (DIあたり) オーデ)

0.116 0.185

総量

バー thCH

ケースからヒートシンクへの(per IGBT) ケースからヒートシンク (pe) ダイオード) ケースからヒートシンク (Mあたり) 臭い)

0.150 0.239 0.046

総量

端末接続トーク スクロール M5 固定トーク スクロール M5

2.5 2.5

3.5 3.5

N.M<br>

G

重量 モジュール

200

g

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