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IGBTモジュール 1700V

IGBTモジュール 1700V

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GD225HFX170C6S、IGBTモジュール、STARPOWER

IGBT モジュール,1700V 300A

Brand:
ストアパワー
Spu:
GD225HFX170C6S
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概要

IGBT モジュール sTARPOWERによって製造されました。1700V 225A。

主な特長

低V CE (衛星 ) IGBT テクノロジー

10μs 短回路能力 関連性

V CE (衛星 ) とともに ポジティブ 温度 係数

最大の 接合温度 175o C

低誘導性 事例

速くて柔らかい逆回復 逆平行FWD

DBC技術を用いた隔離銅基板

典型的な 用途

変圧器 d ドライブ

ACおよびDC サーボ ドライブ アンプ

断続する力 バー 電源

絶対値 最大の レーティング T C=25o C しない限り 違うなら 記載

IGBT

シンボル

説明

価値

単位

V CES

集合器-放出器の電圧

1700

V

V 総エネルギー

ゲート・エミッター・ボルト

±20

V

IC

コレクタ電流 @ T C=25o C

@ T C= 100o C

396

225

A

ICm

パルスコレクター電流 t p = 1ミリ秒

450

A

PD

最大電源 消耗 @ T j =175o C

1530

W

ダイオード

シンボル

説明

価値

単位

V RRM

繰り返しのピーク逆電圧

1700

V

IF

ダイオード 連続前向き 賃貸

225

A

IFm

ダイオード最大順方向電流 t p =1ms

450

A

モジュール

シンボル

説明

価値

単位

T jmax

交差点最大温度

175

o C

T ショウジョウ

交差点の動作温度

-40から+150

o C

T STG

保管温度 航続距離

-40から+125

o C

V ISO

絶縁電圧RMS,f=50Hz,t=1

4000

V

IGBT 特徴 T C=25o C しない限り 違うなら 記載

シンボル

仕様

試験条件

分。

タイプする

マックス。

単位

V 衛星

収集機から発信機へ

飽和電圧

IC=225A,V 遺伝子組み換え =15V T j =25o C

1.85

2.20

V

IC=225A,V 遺伝子組み換え =15V T j =125o C

2.25

IC=225A,V 遺伝子組み換え =15V T j =150o C

2.35

V 遺伝子組み換え (th)

ゲート発信者の限界値 電圧

IC=9.0mA ,V CE =V 遺伝子組み換え , T j =25o C

5.6

6.2

6.8

V

ICES

収集家 切断 オフ

現在の

V CE =V CES ,V 遺伝子組み換え =0V

T j =25o C

5.0

mA

I総エネルギー

ゲート発射器の漏れ 現在の

V 遺伝子組み換え =V 総エネルギー ,V CE =0V T j =25o C

400

nA

バー ゲント

内部ゲート抵抗 アンス

2.8

ω

Cies

入力容量

V CE 電気回路が1Mhzで

V 遺伝子組み換え =0V

27.1

ロープ

Cres

逆転移転

容量

0.66

ロープ

QG

ゲートチャージ

V 遺伝子組み換え =- 15...+15V

2.12

微分

t d (オン )

オンする遅延時間

V CC =900V,I C=225A, バー ゲン =3.3Ω バー ゲッフ =6.2Ω, V 遺伝子組み換え =±15V

T j =25o C

187

nS

t バー

昇る時間

76

nS

t d (オフ )

切断する 遅延時間

587

nS

t f

秋の時間

350

nS

Eオン

オン スイッチング

損失

56.1

mJ

Eオフ

切断する

損失

52.3

mJ

t d (オン )

オンする遅延時間

V CC =900V,I C=225A, バー ゲン =3.3Ω バー ゲッフ =6.2Ω, V 遺伝子組み換え =±15V

T j = 125o C

200

nS

t バー

昇る時間

85

nS

t d (オフ )

切断する 遅延時間

693

nS

t f

秋の時間

662

nS

Eオン

オン スイッチング

損失

75.9

mJ

Eオフ

切断する

損失

80.9

mJ

t d (オン )

オンする遅延時間

V CC =900V,I C=225A, バー ゲン =3.3Ω バー ゲッフ =6.2Ω, V 遺伝子組み換え =±15V

T j = 150o C

208

nS

t バー

昇る時間

90

nS

t d (オフ )

切断する 遅延時間

704

nS

t f

秋の時間

744

nS

Eオン

オン スイッチング

損失

82.8

mJ

Eオフ

切断する

損失

87.7

mJ

ISC

SC データ

t P≤10μs,V 遺伝子組み換え =15V

T j =150o C,V CC = 1000V, V 単数 ≤1700V

900

A

ダイオード 特徴 T C=25o C しない限り 違うなら 記載

シンボル

仕様

試験条件

分。

タイプする

マックス。

ユニット

V F

ダイオード 前向き

電圧

IF =225A,V 遺伝子組み換え =0V,T j =25o C

1.80

2.25

V

IF =225A,V 遺伝子組み換え =0V,T j = 125o C

1.90

IF =225A,V 遺伝子組み換え =0V,T j = 150o C

1.95

Qバー

回収された電荷

V バー =900V,I F =225A,

-di/dt=3565A/μs,V 遺伝子組み換え =- 15V T j =25o C

63.0

微分

Iロープ

ピーク逆

回復電流

352

A

Eレス

逆転回復 エネルギー容量

37.4

mJ

Qバー

回収された電荷

V バー =900V,I F =225A,

-di/dt=3565A/μs,V 遺伝子組み換え =- 15V T j =125o C

107

微分

Iロープ

ピーク逆

回復電流

394

A

Eレス

逆転回復 エネルギー容量

71.0

mJ

Qバー

回収された電荷

V バー =900V,I F =225A,

-di/dt=3565A/μs,V 遺伝子組み換え =- 15V T j =150o C

121

微分

Iロープ

ピーク逆

回復電流

385

A

Eレス

逆転回復 エネルギー容量

82.8

mJ

NTC 特徴 T C=25o C しない限り 違うなら 記載

シンボル

仕様

試験条件

分。

タイプする

マックス。

単位

バー 25

定数抵抗

5.0

δR/R

偏差 バー 100

T C= 100 o C,R 100=493.3Ω

-5

5

%

P25

電力

散熱

20.0

mW

B 25/50

B値

バー 2=R 25経験 [B 25/501/T 2

半角形から

3375

K

B 25/80

B値

バー 2=R 25経験 [B 25/801/T 2

半角形から

3411

K

B 25/100

B値

バー 2=R 25経験 [B 25/1001/T 2

半角形から

3433

K

モジュール 特徴 T C=25o C しない限り 違うなら 記載

シンボル

仕様

分。

タイプする

マックス。

単位

LCE

流れる誘導力

20

nH

バー CC+EE

モジュール鉛抵抗 ターミナルからチップへ

1.10

バー thJC

ケース対ケース (IGBごとに) T) について

ケースへの接点 (DIあたり) オーデ)

0.098

0.158

総量

バー thCH

ケースからヒートシンクへの(per IGBT)

ケースからヒートシンクへの(p er ダイオード)

ケースからヒートシンクへの(per モジュール)

0.029

0.047

0.009

総量

端末接続トーク 六角ボルトM6 固定トーク スクロール M5

3.0

3.0

6.0

6.0

N.M<br>

G

重量 モジュール

350

g

概要

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