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SAR ADC

SAR ADC

Página Principal /  Productos /  Conversor ADC de alta precisión /  Conversor ADC SAR

CM2368 SAR ADC, alta precisión, alta velocidad, bajo consumo de energía

Cada canal está equipado con protección contra sobretensiones analógicas de entrada, amplificador de ganancia programable (PGA), filtro de paso bajo (LPF) y un convertidor ADC SAR de 18 bits. CM2368 también incluye filtros digitales flexibles, una fuente de referencia de voltaje de bajo desvío de 2.5V, buffer de referencia de voltaje e interfaces seriales y paralelas de alta velocidad.

Sistema de adquisición de datos (DAS) sincrónico de 8 canales con convertidor ADC sincrónico de 18 bits y entrada bipolar integrada

La mejor alternativa al AD7606C-18

Brand:
CIMO
Spu:
CM2368
Appurtenance:

Folleto del producto:Descargar

  • Introducción
  • Control de Calidad
  • Capacidad de prueba
Introducción

Descripción general
El CM2368 es un sistema de adquisición de datos (DAS) de 8 canales con muestreo simultáneo de 18 bits. Cada canal integra protección contra sobretensiones en la entrada analógica, un amplificador de ganancia programable (PGA), un filtro paso bajo (LPF) y un convertidor ADC SAR de 18 bits. El dispositivo también incluye un filtro digital flexible, una referencia de baja deriva de 2,5 V, un buffer de referencia y interfaces seriales y paralelas de alta velocidad.

Funcionando con una única fuente de 5 V, el CM2368 soporta rangos de entrada verdaderamente bipolares de ±12,5 V, ±10 V, ±5 V y ±2,5 V en modo simple diferencial, y ±25 V, ±20 V, ±12,5 V, ±10 V y ±5 V en modo diferencial. Todos los canales pueden muestrearse a tasas de hasta 1 MSPS. La protección contra sobretensiones soporta voltajes de hasta ±19,5 V. Una alta impedancia de entrada de 1 MΩ junto con el filtrado integrado simplifica significativamente el diseño del circuito externo.

Características

  • Rangos analógicos de entrada bipolares:
  • Simple diferencial: ±12,5 V, ±10 V, ±5 V, ±2,5 V
  • Diferencial: ±25 V, ±20 V, ±12,5 V, ±10 V, ±5 V
  • alimentación analógica de 5 V, alimentación digital I/O de 1,71 V a 5,25 V
  • muestreo simultáneo de 8 canales
  • Rendimiento:
  • Protección ESD de hasta 7000 V en entradas analógicas
  • relación señal-ruido (SNR) de 94,5 dB (sin sobremuestreo), THD de –107 dB
  • iNL de ±2 LSB, DNL de ±0,6 LSB
  • Interfaz paralela/serial flexible
  • Compatible con SPI / QSPI / MICROWIRE / DSP
  • Solución integrada completamente de adquisición de datos
  • Protección con diodos limitadores en la entrada analógica
  • Amplificador de entrada con impedancia de 1 MΩ
  • Filtro antialiasing de primer orden
  • Referencia y buffer de precisión integrados
  • aDC de 18 bits, 1 MSPS (todos los canales)
  • Filtro digital flexible con OSR hasta 256×
  • Dos opciones de ancho de banda: 23 kHz y 202 kHz
  • Bajo consumo: 175 mW (funcionamiento), 25 mW (espera)
  • Empaquetado LQFP-64 (10 mm × 10 mm)

CM2368架构图.png

CM2368管脚示意图.png

CM2368外型示意图.png

CM2368外型示尺寸意图.png

P lista de productos

SAR ADC

P/N

Tipo

Canales

Resolución

SE/DIFF

SNR

Tasa de muestreo (máx.)

Rango de entrada de señal

INL

Comparaciones con

Interfaz

T(℃)

CM2248

El

8

16

Se

92dB

200kSPS

±10V

1LSB

AD7606

SPI/Parallel

-40~125

CM2249

El

16

16

Se

90dB

1 metro SPS

±10V

1LSB

AD7616

SPI/Parallel

-40~125

CM2368

El

8

18

SE/DIFF

93,6 dB

1 metro SPS

±25 V

3,5 LSB

AD7606C-18

SPI/Parallel

-40~125

CM2268

El

8

16

SE/DIFF

92,6 dB

1 metro SPS

±25 V

1LSB

AD7606C-16

SPI/Parallel

-40~125

CM2219

El

8

16

SE/DIFF

91,4 dB

500k SPS

0-5v

1,5 LSB

AD7699

Inspección de la inducción

-40~125

CM2209

El

8

16

SE/DIFF

92,7 dB

250k SPS

0-5v

1,5 LSB

AD7689

Inspección de la inducción

-40~125

CM2322

El

1

18

Diff

97.3dB

1 metro SPS

±VREF

0.6LSB

AD7982

Inspección de la inducción

-40~125

CM2220

El

1

16

Se

91,4 dB

1 metro SPS

0~VREF

0.6LSB

AD7980

Inspección de la inducción

-40~125

CM2431

El

1

20

Diff

101dB

1.8METRO SPS

±VREF

3LSB

AD4020

Inspección de la inducción

-40~125

Cm2 274

El

4

16

Diff

91dB

5METRO SPS

±VREF

1LSB

AD7380-4

SPI/QSPI

40~125

Control de Calidad

La innovación impulsada por la calidad del producto es la base de nuestro desarrollo. Para nosotros, la calidad es la vida del producto y nuestro compromiso. Nuestros empleados, proveedores y todas las partes involucradas trabajan estrechamente juntos para cumplir una única misión: colocar en primer lugar los intereses y requisitos de nuestros clientes, escucharlos, comprenderlos y ejecutar acciones para satisfacer sus necesidades comerciales y entregarles productos de calidad fiable.

Garantía de calidad desde el diseño

  • Control riguroso y sólido sobre el proceso de desarrollo del producto.
  • Normas estrictas de lanzamiento del producto y control de producción en masa.
  • Garantía técnica de calidad del producto respaldada por plataformas diversificadas de diseño de productos.

Control de Calidad en el Proceso de Fabricación

  • Un sistema de gestión de la cadena de suministro continuamente optimizado.
  • Control de calidad de los envíos (pruebas de rendimiento eléctrico y requisitos de calidad estética).
  • Control de calidad de materias primas (auditorías fiables de calificación de proveedores y procedimientos estrictos de inspección de entradas).
  • Control riguroso y estandarizado de la calidad en las líneas de producción de los proveedores.

Normas estrictas de fiabilidad

  • Establecimiento de un sistema de fiabilidad basado en las normas JEDEC.
  • Normas de fiabilidad definidas que abarcan productos de grado automotriz, grado industrial y grado consumidor en todas las plataformas y líneas de productos.
  • validación al 100 % de cada plataforma de proceso de acuerdo con las normas corporativas de fiabilidad.

Soporte Técnico

  • Soporte técnico durante todo el ciclo de vida del producto para garantizar la calidad del producto.
  • Mejora continua de la calidad del producto mediante una estrecha colaboración con los clientes.
  • Mejora de la calidad del producto mediante diseño conjunto, evaluación de soluciones y soporte in situ.
  • Análisis integral de fallos (incluido el análisis a nivel de sistema del cliente y el análisis de fallos del producto)

Quality Control.png

Capacidad de prueba

Laboratorio de fiabilidad

La fiabilidad es la piedra angular de la calidad del producto y una característica crítica de calidad. Nuestro laboratorio está establecido de acuerdo con las normas internacionales del sector y está completamente equipado con capacidades integrales de ensayo. Puede realizar ensayos de mejora de la fiabilidad, ensayos de cualificación de la fiabilidad, ensayos de vida útil, ensayos de selección y otras evaluaciones para productos electrónicos. Asimismo, se pueden llevar a cabo ensayos personalizados de fiabilidad según los requisitos del cliente.

  • Ensayo de polarización en puerta a alta temperatura (HTGB)
  • Ensayo de polarización inversa a alta temperatura (HTRB)
  • Ensayo de vida útil en almacenamiento a baja temperatura (LTSL)
  • Ensayo en autoclave (PCT)
  • Ensayo acelerado a alta temperatura y alta humedad (H3TRB)
  • Ensayo de vida útil en funcionamiento intermitente (IOL)
  • Ensayo de vida útil en almacenamiento a alta temperatura (HTSL)
  • Ensayo de estrés altamente acelerado sin polarización (uHAST)

RELIABILITY TEST LAB(2).png

Laboratorio de evaluación y aplicación de productos

(1) Pruebas y evaluación de dispositivos

  • Pruebas y evaluación de diversos MOSFET, IGBT, diodos y semiconductores de potencia de banda ancha, que abarcan especificaciones de dispositivos hasta 1700 V / 2000 A
  • Los ensayos incluyen: parámetros I-V, parámetros C-V, Qg, Rg, características de conmutación, recuperación inversa, avalancha y comportamiento en cortocircuito

(2) Pruebas del sistema de alimentación eléctrica

Nuestros ingenieros de aplicaciones cuentan con muchos años de experiencia en el diseño de fuentes de alimentación y en aplicaciones de dispositivos de potencia, brindando a los clientes un soporte técnico integral. Los ensayos incluyen:

  • Pruebas de eficiencia
  • Prueba de elevación de temperatura
  • Prueba de interferencias electromagnéticas (EMI) realizada
  • Prueba de sobretensión

APPLICATION SYSTEM TEST LAB(2).png

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