CM2268 SAR ADC

概要
CM2268は、16ビット、8チャンネルの同期サンプリング型データ収集システム（DAS）です。各チャンネルには、アナログ入力クランプ保護回路、プログラマブルゲインアンプ（PGA）、ローパスフィルタ（LPF）、および16ビットSAR型ADCが搭載されています。また、CM2268には柔軟なデジタルフィルタ、低温ドリフト特性を有する2.5V基準電圧源、基準電圧バッファ、および高速シリアル・パラレルインタフェースが備わっています。
CM2268は5V単一電源で動作し、±12.5V、±10V、±5V、±2.5V（シングルエンド）および±25V、±20V、±12.5V、±10V、±5V（差動）の真のバイポーラ入力信号を処理可能です。全チャンネルは最大1MSPSのサンプリングレートで動作します。入力クランプ保護回路は±19.5Vまでの電圧に耐えられます。高入力インピーダンス（1MΩ）およびチップ内フィルタを備えており、周辺回路設計を大幅に簡素化します。

特徴

• バイポーラアナログ入力範囲

  • シングルエンド：±12.5V、±10V、±5V、±2.5V

  • 差動：±25V、±20V、±12.5V、±10V、±5V

• 5V アナログ電源、1.71V～5.25V デジタルインタフェース電源

• 8チャンネル同期サンプリング入力

パフォーマンス

• アナログ入力のESD保護（最大7000V）

• 93dB SNR（オーバーサンプリングなし）、-107dB THD

• ±0.3LSB INL、±0.5LSB DNL

• 柔軟なパラレル／シリアルインタフェース

• SPI／QSPI／MICROWIRE／DSP 互換

• 完全統合型データ取得ソリューション

• アナログ入力クランプ保護

• 入力インピーダンス1MΩの入力バッファ

• 一次オールパスフィルタ

• オンチップ精密基準電圧源およびバッファ

• 16ビット、1MSPS ADC（全チャンネル対応）

• オーバーサンプリング率最大256倍の柔軟なデジタルフィルタ

• 2種類の帯域幅オプション：23kHzおよび202kHz

• 低消費電力：動作時175mW、スタンバイ時25mW

• LQFP64 10mm × 10mm パッケージ

応用

• データ取得システム

• 計測機器および科学測定

• 半導体自動検査装置

• 電力線監視および保護システム

• 多相モータ制御

• 産業用オートメーション制御および鉄道輸送

アーキテクチャブロック図

ピン構成

外形図および寸法

より詳細な情報については、データシートをご参照ください。

製品品質を原動力としたイノベーションが、当社の発展の基盤です。品質とは、当社にとって製品そのものの生命であり、また私たちの約束でもあります。当社の従業員、サプライヤー、および関係各社は緊密に連携し、一つの使命を果たすために協働しています。それは、お客様の利益と要望を最優先に考え、耳を傾け、理解し、実行することで、お客様のビジネスニーズに応え、信頼性の高い品質の製品をお届けすることです。

設計から始まる品質保証

• 製品開発プロセスに対する強固かつ厳格な管理。
• 厳格な製品リリース基準および量産管理。
• 多様な製品設計プラットフォームによって支えられる製品技術品質保証。

製造プロセスにおける品質管理

• 継続的に最適化されたサプライチェーン管理システム。
• 出荷時品質管理（電気的性能試験および外観品質要件）。
• 原材料品質管理（信頼性の高いサプライヤーの資格審査および厳格な入荷検査手順）。
• サプライヤーの生産ラインに対する厳格かつ標準化された品質管理。

厳格な信頼性基準

• JEDEC規格に基づく信頼性システムの構築。
• すべてのプラットフォームおよび製品ラインにわたる、自動車用、産業用、民生用製品を対象とした定義済みの信頼性基準。
• 各プロセスプラットフォームについて、当社の企業内信頼性基準に従った100％の検証。

テクニカルサポート

• 製品ライフサイクル全体を通じた技術サービスサポートにより、製品品質を保証。
• 顧客との密接な連携を通じた製品品質の継続的改善。
• 共同設計、ソリューション評価、現地サポートを通じた製品品質の向上。
• 包括的な故障解析（顧客システムレベルの解析および製品単体の故障解析を含む）

信頼性試験室

信頼性は製品品質の基盤であり、重要な品質特性です。当社の試験室は国際的な産業標準に従って設立されており、包括的な試験能力を備えています。電子製品に対して、信頼性向上試験、信頼性認定試験、寿命試験、スクリーニング試験など、さまざまな評価試験を実施できます。また、顧客の要望に応じたカスタマイズされた信頼性試験も実施可能です。

• 高温ゲートバイアステスト（HTGB）
• 高温逆バイアステスト（HTRB）
• 低温保存寿命試験（LTSL）
• プレッシャーコッカー試験（PCT）
• 高温高湿加速試験（H3TRB）
• 間欠動作寿命試験（IOL）
• 高温保存寿命試験（HTSL）
• 無バイアス高加速ストレス試験（uHAST）

製品評価・応用試験室

（1）デバイスの試験および評価

• 各種MOSFET、IGBT、ダイオード、ワイドバンドギャップ電力半導体の試験および評価。デバイス仕様は最大1700V／2000Aまで対応
• 試験項目には、I-V特性、C-V特性、Qg、Rg、スイッチング特性、逆回復特性、アバランシェ耐量、短絡耐量が含まれます

（2）電源システムの試験

当社のアプリケーションエンジニアは、電源設計および電力デバイス応用分野において長年にわたり豊富な経験を有しており、お客様に包括的な技術サポートを提供しています。試験項目には以下が含まれます：

• 効率試験
• 温度上昇試験
• 伝導型EMI試験
• サージ試験

• 原産地証明書を発行していただけますか？

はい、各商品について原産地証明書を発行いたします。 注文。

• 支払条件はどのようになりますか？

支払い方法は銀行振込（T/T）で承ります。契約締結後、契約金として30％の前払いをいただき、出荷前に残金全額をお支払いいただきます。

• 取引条件は何ですか？

FCA、FOB、CIF、DDPなどの国際貿易規則に準拠した納入条件に対応可能です。

• 試験用の少量サンプルを購入したいのですが、可能でしょうか？

もちろんです。大規模な導入に先立ち、サンプルによる試験を行うことは必須のステップです。当社はこのアプローチを全面的に支持・推奨しており、お客様の製品評価試験を積極的に支援し、必要なサンプルを確実にご提供いたします。

• 貴社ウェブサイト上で、私が求める製品を見つけることができませんでした。ご推薦いただけますか？

承知しました！お客様のニーズに最も適した製品をご提案するため、以下の情報をご提供ください：

• 応用分野 ：（例：自動車、産業機器、電源、民生用電子機器など）
• 主要な仕様要件 ：代替ソリューションをお探しの場合、置き換えを検討されている製品のデータシートをお送りください。それにより、より正確なご提案が可能になります。
• パッケージに関する制限や設置スペース／外形寸法の制約はありますか？
• 特定の標準認証（例：AEC-Q、環境／安全基準など）が要求されるかどうか