CM2368 SAR ADC

概要
CM2368は、18ビット、8チャネル同時サンプリング型データ取得システム（DAS）です。各チャネルには、アナログ入力クランプ保護、プログラマブルゲインアンプ（PGA）、ローパスフィルタ（LPF）、および18ビットSAR ADCが統合されています。このデバイスには、柔軟なデジタルフィルタ、低ドリフトの2.5 Vリファレンス、リファレンスバッファ、および高速シリアルおよびパラレルインタフェースも備わっています。

単一5V電源で動作するCM2368は、シングルエンドモードで±12.5 V、±10 V、±5 V、±2.5 Vの真双極性入力範囲、差動モードで±25 V、±20 V、±12.5 V、±10 V、±5 Vをサポートしています。すべてのチャネルは最大1 MSPSのスループットレートでサンプリング可能です。入力クランプ保護は±19.5 Vまでの電圧に耐えられます。1 MΩの高入力インピーダンスとチップ内フィルタリングにより、外部回路設計が大幅に簡素化されます。

特徴

• 双極性アナログ入力範囲：

• シングルエンド：±12.5 V、±10 V、±5 V、±2.5 V
• 差動：±25 V、±20 V、±12.5 V、±10 V、±5 V

• 5 V アナログ電源、1.71 V から 5.25 V のデジタルI/O電源
• 8チャネル同時サンプリング
• パフォーマンス:

• アナログ入力に最大7000 VのESD保護
• 94.5 dBのSNR（オーバーサンプリングなし）、–107 dBのTHD
• ±2 LSBのINL、±0.6 LSBのDNL

• 柔軟なパラレル／シリアルインタフェース
• SPI／QSPI／MICROWIRE／DSP互換
• 完全統合型データ取得ソリューション
• アナログ入力クランプ保護
• 1 MΩの入力インピーダンスを持つ入力バッファ
• 一次オールパスフィルタ
• チップ内高精度リファレンスおよびバッファ
• 18ビット、1 MSPS ADC（全チャネル）
• 最大256×のOSRに対応する柔軟なデジタルフィルタ
• 2つの帯域幅オプション：23 kHzおよび202 kHz
• 低消費電力：動作時175 mW、スタンバイ時25 mW
• LQFP-64（10 mm × 10 mm）パッケージ

P 製品リスト

SAR ADC

製品品質を原動力としたイノベーションが、当社の発展の基盤です。品質とは、当社にとって製品そのものの生命であり、また私たちの約束でもあります。当社の従業員、サプライヤー、および関係各社は緊密に連携し、一つの使命を果たすために協働しています。それは、お客様の利益と要望を最優先に考え、耳を傾け、理解し、実行することで、お客様のビジネスニーズに応え、信頼性の高い品質の製品をお届けすることです。

設計から始まる品質保証

• 製品開発プロセスに対する強固かつ厳格な管理。
• 厳格な製品リリース基準および量産管理。
• 多様な製品設計プラットフォームによって支えられる製品技術品質保証。

製造プロセスにおける品質管理

• 継続的に最適化されたサプライチェーン管理システム。
• 出荷時品質管理（電気的性能試験および外観品質要件）。
• 原材料品質管理（信頼性の高いサプライヤーの資格審査および厳格な入荷検査手順）。
• サプライヤーの生産ラインに対する厳格かつ標準化された品質管理。

厳格な信頼性基準

• JEDEC規格に基づく信頼性システムの構築。
• すべてのプラットフォームおよび製品ラインにわたる、自動車用、産業用、民生用製品を対象とした定義済みの信頼性基準。
• 各プロセスプラットフォームについて、当社の企業内信頼性基準に従った100％の検証。

テクニカルサポート

• 製品ライフサイクル全体を通じた技術サービスサポートにより、製品品質を保証。
• 顧客との密接な連携を通じた製品品質の継続的改善。
• 共同設計、ソリューション評価、現地サポートを通じた製品品質の向上。
• 包括的な故障解析（顧客システムレベルの解析および製品単体の故障解析を含む）

信頼性試験室

信頼性は製品品質の基盤であり、重要な品質特性です。当社の試験室は国際的な産業標準に従って設立されており、包括的な試験能力を備えています。電子製品に対して、信頼性向上試験、信頼性認定試験、寿命試験、スクリーニング試験など、さまざまな評価試験を実施できます。また、顧客の要望に応じたカスタマイズされた信頼性試験も実施可能です。

• 高温ゲートバイアステスト（HTGB）
• 高温逆バイアステスト（HTRB）
• 低温保存寿命試験（LTSL）
• プレッシャーコッカー試験（PCT）
• 高温高湿加速試験（H3TRB）
• 間欠動作寿命試験（IOL）
• 高温保存寿命試験（HTSL）
• 無バイアス高加速ストレス試験（uHAST）

製品評価・応用試験室

（1）デバイスの試験および評価

• 各種MOSFET、IGBT、ダイオード、ワイドバンドギャップ電力半導体の試験および評価。デバイス仕様は最大1700V／2000Aまで対応
• 試験項目には、I-V特性、C-V特性、Qg、Rg、スイッチング特性、逆回復特性、アバランシェ耐量、短絡耐量が含まれます

（2）電源システムの試験

当社のアプリケーションエンジニアは、電源設計および電力デバイス応用分野において長年にわたり豊富な経験を有しており、お客様に包括的な技術サポートを提供しています。試験項目には以下が含まれます：

• 効率試験
• 温度上昇試験
• 伝導型EMI試験
• サージ試験

• 原産地証明書を発行していただけますか？

はい、各商品について原産地証明書を発行いたします。 注文。

• 支払条件はどのようになりますか？

支払い方法は銀行振込（T/T）で承ります。契約締結後、契約金として30％の前払いをいただき、出荷前に残金全額をお支払いいただきます。

• 取引条件は何ですか？

FCA、FOB、CIF、DDPなどの国際貿易規則に準拠した納入条件に対応可能です。

• 試験用の少量サンプルを購入したいのですが、可能でしょうか？

もちろんです。大規模な導入に先立ち、サンプルによる試験を行うことは必須のステップです。当社はこのアプローチを全面的に支持・推奨しており、お客様の製品評価試験を積極的に支援し、必要なサンプルを確実にご提供いたします。

• 貴社ウェブサイト上で、私が求める製品を見つけることができませんでした。ご推薦いただけますか？

承知しました！お客様のニーズに最も適した製品をご提案するため、以下の情報をご提供ください：

• 応用分野 ：（例：自動車、産業機器、電源、民生用電子機器など）
• 主要な仕様要件 ：代替ソリューションをお探しの場合、置き換えを検討されている製品のデータシートをお送りください。それにより、より正確なご提案が可能になります。
• パッケージに関する制限や設置スペース／外形寸法の制約はありますか？
• 特定の標準認証（例：AEC-Q、環境／安全基準など）が要求されるかどうか